2 өгөгдлийн бүрдэл олдлоо

Projects: NSUF 17-CINR-12957: X-ray Characterization of Atomistic Defects Causing Irradiation Creep of SiC Ашиглах зөвшөөрлүүд: Creative Commons Attribution Байгууллагууд: NSUF

Үр дүнг шүүх