Dataset 2 ခု တွေ့ရှိခဲ့ပါသည်။

Projects: NSUF 17-CINR-12957: X-ray Characterization of Atomistic Defects Causing Irradiation Creep of SiC ပုံစံများ: PDF

ရလဒ်များ စစ်ထုတ်မည်